题目/Title：一种用于高精度ADC片上测试的信号发生器
                        Triangle-wave Signal Generator for High-accuracy On-chip ADC Testing

作者/Author：朱育飞,李冬梅
                        Yufei Zhu,Dongmei Li

期刊/Journal：现代电子技术 Modern Electronics Technique

年份/Issue Date：2010.Nov.

卷（期）及页码/Volume（No.）&pages：Vol.33, No.22, pp. 31 - 34

摘要/Abstract：
随着模/数转换器(ADC)性能的提高,如何用最有效的方法对ADC进行准确而快捷的测试,成为当今研究的热点问题.提出了一种应用于高精度ADC片上测试的高精度高线性度模拟三角波信号发生器.该信号发生器由方波积分器和迟滞比较器反馈控制电路组成,可为精度高达14 b的模/数转换器的静态特性测试提供足够精度的片上测试激励.仿真结果表明,该信号发生器所生成的三角波电压范围为82 mV～1.719 V,周期为366 μs,INL小于24 μV,等效精度达到16 b以上,具有非常高的线性度,并且可根据所需要的周期和幅度进