题目/Title：JTAG技术的发展和应用综述
                       

作者/Author：胡学良,张春,王志华
                        Xueliang Hu,Chun Zhang,Zhihua Wang

期刊/Journal：微电子学 Microelectronics

年份/Issue Date：2005

卷（期）及页码/Volume（No.）&pages：Vol.35, No.6, pp.1

摘要/Abstract：
JTAG作为测试标准已为芯片设计与制造厂商接受和应用。文章概述了JTAG技术在测试领域的典型应用。同时，随着深亚微米工艺的采用，以及千兆时钟时代的来临和SOC的发展，JTAG已出现很多新的应用和实现方法。着重探讨了JTAG的发展，及其在信号完整性测试、嵌入式调试、差分信号测试等技术中的应用。