针对过采样模数转换器的非线性问题，提出并且实现了单元码逼近的前台数字校准技术，同时采用带有二阶噪声整形的高能效SAR ADC作为量化器，在28nm CMOS工艺实现了170MS/s 12bit的过采样ADC芯片。测试结果表明，在85 MHz信号带宽下，该模数转换器实现0dB的信号传递函数峰值，74.4dB的噪声信号失真比和 87.5 dB的无杂散动态范围，消耗61.8 mW 功耗。相关结果以通讯作者发表在集成电路设计顶级期刊IEEE JSSC。
