题目/Title：用于高精度DAC测试的数字正弦波发生器
                        Digital Sine-Wave Generator for Testing High Resolution DAC

作者/Author：庞建国,刘力源,李冬梅
                        Jianguo Pang,Liyuan Liu,Dongmei Li

期刊/Journal：微电子学 Microelectronics

年份/Issue Date：2009

卷（期）及页码/Volume（No.）&pages：Vol.39, No.4, pp. 470 - 473

摘要/Abstract：
介绍了一种用于高精度DAC测试的数字正弦波发生器.该发生器应用坐标轴旋转数字算法 (CORDIC),计算出输入角度的三角函数值;同时设置相应的控制单元,可产生幅度和频率皆可调节的实时数字正弦波.电路在Xilinx的FPGA开发板ML401上实现,并利用SoPC技术提供控制幅度和频率的界面.设计的发生器已应用于高精度(20位)音频DAC测试,产生的SNR大于120 dB,可满足测试要求.