题目/Title：A/D转换器测试过程中频谱泄漏的抑制
                        Suppression of Spectral Leakage in ADC Testing

作者/Author：孙杰,李冬梅
                        Jie Sun,Dongmei Li

期刊/Journal：微电子学 Microelectronics

年份/Issue Date：2007

卷（期）及页码/Volume（No.）&pages：Vol.37, No.4, pp. 486 - 488

摘要/Abstract：
提出了一种改进的激励波形和一种改进的频谱分析方法,用于A/D转换器的测试.改进的激励波形有效地解决了信号输入频率不确定的问题,并且能够很好地抑制噪声的干扰;改进的频谱分析方法通过对信号进行预处理,然后再进行傅里叶变换,改善了数据处理的精度.这两种方法相结合,很好地抑制了频谱泄漏,明显提高了A/D转换器测试的准确度.